Program Schedule

ISSM戦略フォーラム2017


コーディネータ: 

 オムロン オートモーティブエレクトロニクス  品質統括室担当部長  南百瀬 勇氏

  (ISSM論文委員会幹事)

 

時間 タイトル 講演者
13:00-13:05  開会の辞

ISSM運営委員長

ルネサス セミコンダクタ マニュファクチュアリング

シニアエキスパート

井上 修一氏

  6,8インチファブのoutlook
13:05-13:30  6,8インチファブのoutlook

 IHS Markits

日本調査部ディレクター

南川 明氏

セッション「既存装置の延命生産技術」
13:30-13:45  レガシーファブが抱える装置延命の課題とその取組み

ジャパンセミコンダクター 

ファクトリー

生産技術部長 

谷川 元氏

13:45-14:00  LSIからMEMSへ  ~レガシーファブでの量産技術

オムロン

マイクロデバイス事業推進部

生産2課 課長

 

中村 智史氏

セッション「リファービッシュ生産装置の供給」

14:00-14:15

進化する200㎜ TEL Furnace & Etcher

東京エレクトロン

FSBU フィールドソリューション1部 Etchプロダクトグループ グループリーダー

八木沢 昭二氏

 

FSBU フィールドソリューション1部 TPSプロダクトグループ グループリーダー

宇城 満山

14:15-14:30 

More-Than-Moore 新生代へのチャレンジとチャンス

アプライドマテリアルズ

ジャパン 

AGS事業部 

EPG 日本・韓国統括部長

杉山 祐一郎氏

14:30-14:45  ラムリサーチの技術革新と生産性向上によるレガシ‐ファブへの対応

Lam Research Japan 

Customer Support Business Group(CSBG) 

Sales General Manager

新井 広志氏

14:45-15:00 休憩 

セッション「レガシーファブでの品質作り込み」

-ISSM 2016 Best Paper講演より

15:00-15:15

 ISSM 2016 Best Paper Award受賞論文

 

後工程におけるテスト品質向上―Part Average Testing(PAT)手法の導入

ジャパンセミコンダクター

坂本 格氏

15:15-15:30

ISSM 2016 Best of the Best Paper Award受賞論文

 

レガシー製品の信頼性向上手法~レイアウトを用いたテストカバレッジで不良流出の危険性を最小化~

ルネサス セミコンダクタ マニュファクチュアリング 

技術統括部 解析評価技術部 歩留解析課 主任技師

永村 美一氏

新規6・8インチファブ参入のオポチュニティー
15:30-15:50  新規6・8インチファブ参入のオポチュニティー
「中国半導体動向及び日本企業の戦略」

Global Research & Innovative Solutions (GRAINnS)

代表取締役

三重野 文健氏

パネルディスカッション
15:55-17:20

パネルディスカッション「レガシーファブの覚醒?! 岐路?1」

<モデレーター>

ルネサス セミコンダクタ マニュファクチュアリング  井上 修一氏

 

<パネリスト>

IHS Markits                                           南川 明氏

ジャパンセミコンダクター                         谷川 元氏

オムロン                                               中村 智史氏

東京エレクトロン                                                         八木沢  昭二氏

アプライドマテリアルズジャパン                      杉山  祐一郎氏

Global Research & Innovative Solutions(GRAINnS)     三重野 文健氏

17:20 Closing